ศูนย์นวัตกรรมเทคโนโลยีหลังการเก็บเกี่ยว

ผลการเร่งอายุเมล็ดพันธุ์พริกหวานต่อคุณภาพของเมล็ดและการรั่วไหลของสารอิเล็กโทรไลท์

ปรียา แก้วนารี, คณิต วิชิตพันธุ์, สุกานดา วิชิตพันธุ์, ปรีย์กมล กลั่นฤทธิ์ และบุญมี ศิริ

กำหนดการประชุมและบทคัดย่อ. การประชุมวิชาการพืชสวนแห่งชาติ ครั้งที่ 7, 26-30 พฤษภาคม 2551. ณ โรงแรม อมรินทร์ลากูน จ. พิษณุโลก. 391 หน้า

2551

บทคัดย่อ

                การศึกษาครั้งนี้ได้ตรวจสอบคุณภาพของเมล็ดและการรั่วของสารอิเล็กโทรไลท์ระหว่างการเร่งอายุเมล็ดพริกหวาน โดยเร่งอายุเมล็ดที่ความชื้นสัมพันธ์ 100% อุณหภูมิ 42°Cเป็นเวลา 0 5 10 15 20 25 และ 30 วัน จากนั้น ประเมินการงอกและอัตราเร็วของการงอกของเมล็ดที่เร่งอายุข้างต้น ผลการทดลองสรุปได้ว่าเมื่อเวลาในการเร่งอายุเพิ่มขึ้นประสิทธิภาพการงอกของ เมล็ดจะลดลง โดยได้คุณภาพของเมล็ดที่มีประสิทธิภาพในการงอก 5 ระดับ คือ 98 93 63 47 และ 0% ของเมล็ดที่เร่งอายุ 0 5 10 15 และ 20 วัน ตามลำดับ เมื่อตรวจสอบปริมาณสารอิเล็กโทรไลท์ในสารละลายแช่เมล็ดเป็นเวลา 24 ชั่วโมง พบว่า K⁺มีปริมาณเพิ่มขึ้นตลอดช่วงเวลาของการเร่งอายุเมล็ด ส่วนปริมาณของ Na⁺ Ca²⁺ และ Mg²⁺ ในสารละลายแช่เมล็ดมีการเปลี่ยนแปลงน้อยมากตลอดช่วงการเร่งอายุ 0-30 วัน ซึ่งการเปลี่ยนแปลงปริมาณของ K⁺ ในสารละลายแช่เมล็ดมีความสัมพันธ์ในทางตรงข้าวกับเปอร์เซ็นต์การงอกของเมล็ดที่ใช้เวลาเร่งอายุต่างๆกัน การเสื่อมคุณภาพของเมล็ดแบ่งเป็น 3 กลุ่มตามความเร็วของการเสื่อมของเมล็ด คือ เมล็ดที่เร่งอายุในช่วง 0-5 5-15 และ 15-20 วัน ซึ่งมีความสัมพันธ์กับการเปลี่ยนแปลงปริมาณของ K⁺ ในสารละลายแช่เมล็ด ผลการทดลองนี้มีความเป็นไปได้ว่าอาจใช้ปริมาณ K⁺ ในสารละลายแช่เมล็ดในการบอกระดับคุณภาพเมล็ดพันธุ์ได้ จากเปอร์เซ็นต์การรั่วไหลของสารอิเล็กโทรไลท์ที่แตกต่างกัน เช่น Na⁺ 81% K⁺ 20% Ca²⁺ 7% และ Mg²⁺ 3% ของ สารอิเล็กโทรไลท์ที่มีในเมล็ดน่าจะมีสาเหตุจากความสามารถในการขนส่งสาร อิเล็กโทรไลท์ของโปรตีนที่เป็นส่วนประกอบของเยื่อเซลล์มากกว่าที่จะเกิดจาก ลิปิดที่เป็นส่วนประกอบหลักของเยื่อเซลล์ถูกทำลาย การเปลี่ยนแปลงปริมาณกรดไขมันในเมล็ดพริกหวานกับเวลาที่ใช้ในการเร่งอายุ เมล็ดจะต้องทำการศึกษาต่อไปเพื่อยืนยันผลสรุปข้างต้น

ดาวน์โหลดไฟล์บทคัดย่อ (PDF)